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白光干涉膜厚仪
参考价：面议
品牌与制造商：贝拓科学 产地：/ 型号：TF200/Delta 官方样本下载：来电或留言获取样本
数据更新时间：2025-08-19
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产品官方概述
贝拓科学TF200/Delta白光干涉膜厚仪采用宽光谱光源（深紫外至近红外），基于薄膜干涉原理精准测量1nm-3mm膜厚，支持多层同步分析。其核心技术通过干涉条纹反演算法，快速计算厚度及折射率，兼具高精度与高效性。特点涵盖宽量程、多波长适配及自动化分析，适用于半导体、光学镀膜等领域的纳米级薄膜检测，提供稳定可靠的工业级解决方案。（199字）
以下内容综合自贝拓科学官方技术规格及公开资料信息
官方技术参数
产品介绍
▶仪器介绍
白光干涉薄膜厚度测量仪利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光 源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范 围1nm-3mm, 可同时完成多层膜厚的测试。
▶工 作 原 理
当白光通过样品表面时，其中不同波长的光具有不同的传播速度和相位差。这些不同波长的光波在样品厚度上的传播距 离会导致干涉条纹的形成。根据薄膜干涉理论，当样品表面反射的光与透射的光发生相干叠加时，形成干涉谱图。干涉条纹 的形态与样品的厚度和折射率有关。通过测量和分析干涉图样的特征，可以计算出样品的薄膜厚度和折射率。
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