F54 薄膜厚度测量仪(美商菲乐)

SiC半导体中膜厚测量解决方案优尼康科技有限公司目录01SiC半导体材料概述02SiC材料的优点03SiC器件种类04SiC半导体应用05SiC半导体厂商06SiC半导体测量需求01  SiC半导体材料概述  随着代和第二代半导体材料发展的成熟，目前在大规模使用的Si功率器件已经达到其性能极限，Si功率器件的工作频率、功率、耐热温度、能效、耐恶劣环境及小型化等性能的提高面临难以逾越的瓶颈。现代科技越来越多的领域需要高频率、高功

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致各位尊敬的客户和合作伙伴：2020年起，优尼康科技有限公司将全权负责Filmetrics光学膜厚测量仪在中国区的产品销售，技术服务和售后工作。我们会继续秉承“真诚，专注，信赖”的理念，在新的一年不断向前。在新开设的微信服务号中新增各种便捷功能（微信搜索：优尼康）：在线客服；微课堂；配件服务商店等（详情见公众号）。全方位多维度的服务内容提供给优尼康的新老客户们，意见反馈也可在服务号中提交，您的建议是我们前进的动力。 附：美国 Filmetrics

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光学膜厚仪的特点是不接触样品, 不用破坏样品就可测量，使用白光干涉的原理对样品表面的膜层进行测量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以进行测量。不管是打算测量薄膜厚度，还是光学常数，或者是打算知道材料的反射率和透过率，优尼康科技有限公司提供的膜厚仪都可以满足你的需求，通过简单安装，连接电脑，就可以很快测量出结果。这种产品主要应用在，半导体行业如：光刻胶的厚度测量；加工膜层的厚度测量，介电层的厚度测量等。液晶显示器行业如：OLED领域各种透明

2019年1月，我司工程师在广东省惠州市航天科技工业园内一家半导体行业进行装机服务，该企业具有丰富的液晶显示器(LCD)/液晶显示模块（LCM）制造经验、拥有先进的生产设备和高素质的技术人员。产品广泛应用于通信工具、家用电器、交通工具、计量器械、仪表仪器、文教器具、游艺设施等领域，远销美国、加拿大、德国、巴西、以色列、巴基斯坦、印度、马来西亚、新加坡、日本、韩国等十几国家。本次装机服务安装的为美国Filmetrics的F20-UV，用于液晶面板PI膜的厚度

FILMETRICS膜厚仪--光纤通讯中的应用目前光电子集成芯片技术正处于高速发展时期。全球都投入了大量资源进行高端光电子器件的研发，在有关基础科学问题、关键技术、示范应用、产业推广等方面均有重大进展和突破。膜厚仪光电子集成芯片技术是将光电材料和功能微结构集成在单一芯片上，实现系统功能的新技术。发展与微电子集成电路类似的光电子集成芯片技术，是光电子器件技术正在面临着的一次里程碑式变革。光电子集成芯片技术具有低功耗、高速率、高可靠、小体积等突出的优点，必将在

薄膜的沉积，是一连串涉及原子的吸附、吸附原子在表面的扩散及在适当的位置下聚结，以渐渐形成薄膜并成长的过程。薄膜的生成质量以及膜厚精确检测在半导体制造中有很高的重要性。 半导体技术中薄膜的沉积方式有以下分类： 化学气相沉积（Chemical Vapor Deposition）——CVD 反应气体发生化学反应，并且生成物沉积在晶片表面。 物理气相沉积（Physical Vapor Deposition）——PVD 蒸 镀（Evaporation） 利用被蒸镀物