您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪
满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统
F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀,F3-sX系列配置10微米的测试光斑直径因而可以快速容易的测量其他膜厚测试仪器不能测量的材料膜层。而且仅在几分之一秒内完成。
波长选配
F3-sX采用的是近红外光(NIR)来测量膜层厚度,因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层( 比如半导体膜层) 。980nm波长型号,F3-s980,专门针对低成本预算应用。F3-s1310针对于高参杂硅应用。F3-s1550则针对较厚膜层设计。
配件
配件包括自动绘图平台、测量点可视化的摄像机, 和可见光波段选项,使测量厚度能力小达到15纳米。此外数据采集速率达到1kHz,让F3-sX系列成为许多在线应用的选择(比如“roll-to-roll”工艺)。
测量原理为何?
FILMeasure分析-薄膜分析的标准部件
可选配件
应用
• Si晶圆厚度测试
• 保形涂层
• IC 芯片失效分析
• 厚光刻胶(比如SU-8光刻胶)
选择Filmetrics的优势
• 桌面式薄膜厚度测量的全球
• 24小时电话,E-mail和在线支持
• 所有系统皆使用直观的标准分析软件
附 加 特 性
• 嵌入式在线诊断方式
• 免费离线分析软件
• 精细的历史数据功能,帮助用户有效地
• 存储,重现与绘制测试结果
Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪 , F3-sX
Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪 信息由优尼康科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪 报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
F50 光学膜厚测量仪
F10-AR 薄膜厚度测量仪
F60-t 薄膜厚度测量仪
Profilm 3D光学轮廓仪
F32 薄膜厚度测量仪
F10-HC 薄膜厚度测量仪
F10-RT 薄膜厚度测量仪
Zeta-20 白光共聚焦显微镜
种子包衣测量方案- filmetrics F3-s1310 膜厚测量仪所谓种子包衣是采取机械或手工方法,按一定比例将含有杀虫剂、杀菌剂、复合肥料、微量元素、植物生长调节剂、缓释剂和成膜剂等多种成分的种衣剂均匀包覆在种子表面,形成一层光滑、牢固的药膜。随着种子的萌动、发芽、出苗和生长,包衣中的有效成分逐渐被植株根系吸收并传导到幼苗植株各部位,使种子及幼苗对种子带菌、土壤带菌及地下、地上害虫起到防治作用。药膜中的微肥可在底肥借力之前充分发挥效力。因此,包衣种子
太阳能膜厚纳米厚度测量仪 F50
群组论坛--分析仪器
您可能要找:美商菲乐涂镀层及薄膜测厚仪Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪 价格 F3-sX涂镀层及薄膜测厚仪参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号