Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统 

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统产品介绍：

Filmetrics F3-sX 光学厚膜测厚仪利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列膜厚仪配置10微米的测量光斑，从而可以容易地测量其他膜厚测量仪器不能测量的膜层，并且仅在几分之一秒内完成。F3-sX膜厚仪在Si晶圆厚度测量、护涂层、IC芯片失效分析、厚光刻胶等方面优异表现。

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统产品特点优势：

• 非接触测量：避免损伤薄膜，适用于脆弱或敏感材料；

• 多场景适用性：基本上光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

• 测量速度快：配置完成后，数秒内即可完成测量。

• 采用近红外光(NIR)来测量膜层厚度，因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层

• 配件包括自动绘图平台、测量点可视化摄像机，和可见光扩展波段选项

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统产品测量原理：

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统产应用与膜层范例：

• 薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等

• 薄膜种类：透明及半透明薄膜，常见如氧化物、聚合物甚至空气

• 薄膜状态：固态、液态和气态薄膜都可以测量

• 薄膜结构：单层膜、多层膜；平面、曲面

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统产品常见工业应用：

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统产品参数：

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统测量图：

Filmetrics F3-sX 膜厚仪-专业厚膜测量系统信息由优尼康科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Filmetrics F3-sX 膜厚仪-专业厚膜测量系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。