您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
膜厚量测仪FE-300的特点
测试范围涵盖薄膜到厚膜
基于绝对反射率光谱分析膜厚
小型・低价,精度高
无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手
外观新颖,操作性提高
非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)
对应膜种
○ 多层膜 ○ 折射率倾斜
○ 非干涉膜 ○ 超晶格结构
用途
○ 光学薄膜(ARfilm、ITO等)
○ FPD相关(ITO、PI、PC、CF等)
测量项目
多层膜厚解析
绝对反射率测量
光学常数解析(n:折射率k:消光系数)
测量实例
式样
*1 细规格请咨询
*2 相对于VLSI 公司产膜厚标准(100nm SiO2/Si)的膜厚保证书记载的测量保证值范围
*3 VLSI 公司产膜厚标准(100nm SiO2/Si)的同一点反复测量时的扩张不确定度(包括因子2.1)
膜厚测量仪FE-300,FE-300
膜厚测量仪FE-300信息由北京先锋泰坦科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于膜厚测量仪FE-300报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
激光粒径仪 ELSZ-2000
群组论坛--分析仪器
您可能要找:大塚电子涂镀层及薄膜测厚仪膜厚测量仪FE-300价格FE-300涂镀层及薄膜测厚仪参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号