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F10-HC 薄膜厚度测量仪 (美商菲乐)

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以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的专利设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。

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F10-HC
美商菲乐
美国
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