光学 厚度检测
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-17......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片，符合行业标准。适用反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数项目。 Cary 5000 是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计，在 175-3300 nm 范围内具有优异的光度性能。Cary 5000 采用 ......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度，光学常数项目，参考多项行业标准0。可以检测PDP等离子体显示屏等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） * ......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定非晶碳薄膜，符合行业标准0。适用厚度，光学常数项目。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TFT和LTPSTFT-LCD显示器，符合行业标准0。适用厚度，光学常数项目。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） *&n......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜，符合行业标准0。适用厚度，光学常数项目。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还可以测试材......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域，用来检测III-V族半导体，可完成厚度，光学常数项目。符合多项行业标准0。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以......
综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 ......
综合概述 SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM230就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，其厚度最大测绘范围可以 达到5nm~250um，并支持测量点位路径绘制及......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统利用薄膜反射光干涉的原理，进行薄膜厚度测量及分析。适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-1700nm的光......