光学表面轮廓仪

Profilm3D 光学轮廓仪  低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以前所未有的价格实现次纳米级的表面形貌研究。100mm自动XY样品台您还在位每人都希望要的功能而支付额外的费用吗?我们现在每台Pro......

1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响,触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制,对于峰峰值很小的表面,触针很难伸到谷底,测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量,锋利的针尖会划伤测量表面,同时触针使用一段时间后会产生磨损,都会使测量结果不可靠。因此非接触测量成为表面测量的一个重要方向。 干涉显微镜自上世纪至今一直是非接触测量高等级表面粗糙度的主要......

布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球lingdao者,服务于科研和生产ling域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了先进的64位多核操作和分析处理软件,zhuan  li技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,是历年来来zui先进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的......

KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。    探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......

NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性,超出了接触式仪器的可能,使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的,而不损坏样品。不敏感的材料类型,该系统的WL......

结合了十多年的包装光学特性专门知识,CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层,并包含了一系列先进的功能,为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面,提供了......

HD 9800+3D大格式表面轮廓系统是世界上最先进的用于在线数据存储滑块计量学的光学轮廓仪。该系统将可测量光学表征技术与先进的自动化技术相结合,使PTR和平坦度测量性能得到优化。HD 9800+结合了几十年的工业高清计量经验,使用白光干涉测量(WLI),自我校准,LED高强度照明,操作友好的软件,以及一系列其他功能,以提供稳健,高分辨率,无......

立体式三维光学剖面仪为实验室研究和生产过程控制提供了最高性能的非接触表面测量。结合十代白光干涉测量(WLI)的创新和设计,这一计量系统提供了最高的垂直分辨率超过该行业的最大视野。主要功能包括完全自动化和生产接口,大型电动XYZ级,头部倾斜/倾斜,以及一个完整的空气隔离台。设计从地面到最苛刻的研发,质量保证,和过程质量控制的需要,CONTEBGT-X提供了最终......

纳米表面轮廓仪

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昊量光电 光学计量仪器

型号:纳米表面轮廓仪

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纳米表面轮廓仪 纳米表面轮廓仪IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万个数据点。选择正确的光学轮廓仪系统取决于您的应用程序的要求,包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。IMOS光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓方面提供了强大......

中图仪器SuperViewW光学3D表面轮廓仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。它能以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等......