牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Pollutant Particles,符合行业标准Oxford Instruments。适用Pollutant Particles项目。 监测和过程控制 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extr......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积SDD高15......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Polymer Materials,符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 聚合物添加剂分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ult......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Polymer Materials,符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 聚合物添加剂分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积SDD高15倍。可对锂元素......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Polymer Materials,符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 聚合物添加剂分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积SDD高15倍。可对锂元素......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Microstructure and Mechanical Properties,符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Microstructure and Mechanical Properties,符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Pore Fluids,符合行业标准Oxford Instruments。适用Pore Fluids项目。 岩芯分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积SDD高15倍。可对锂元素进行检测和成像加速电压小于2kV......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Pore Fluids,符合行业标准Oxford Instruments。适用Pore Fluids项目。 岩芯分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Minerals and Metals,符合行业标准Oxford Instruments。适用Minerals and Metals项目。 工艺矿物学与化学分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim E......