白光干涉膜厚仪
仪器简介：球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体......
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
技术特点光学方法，非接触、无损测量，安全无辐射。快速膜厚分析，只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度，在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米可同时分析计算两层膜厚可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析 主要用于全球主要的汽车......
TranSpec光谱仪结合创新的光电技术与强大的模拟/数字电子技术和最新的计算机技术。借助于灵活的光纤，TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的高稳定性光电二级管阵列分光计使用spurious-free动态范围的1MHz16位模拟/数字转换器针对紫外线……近红外光谱范围可使用不同的分光计模块可选......
技术特点光学方法，非接触、无损测量，安全无辐射。快速膜厚分析，只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度，在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米可同时分析计算两层膜厚可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析 主要用于全球主要的汽车......
产品描述TranSpec Micro新的光纤耦合TranSpec Micro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。TranSpec Micro薄膜厚度测量仪和我们TranSpec和TranSpec Lite仪器一样采用白光干涉原理。为了测量非......
产品描述TranSpec Micro新的光纤耦合TranSpec Micro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。TranSpec Micro薄膜厚度测量仪和我们TranSpec和TranSpec Lite仪器一样采用白光干涉原理。为了测量非......
等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程，如PVD（物理气象沉积）是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查，有时也使用质谱技术。但是质谱技术既不方便操作，其结果也不容易理解。与此相比，使用OES（发射光谱）和光纤耦合TranSpec光谱仪的有点是显而易见的。技术特征在200…1000n......
产品描述TranSpec光谱仪结合光电技术与模拟/数字电子技术和计算机技术。借助于灵活的光纤，TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的高稳定性光电二级管阵列分光计使用spurious-free动态范围的1MHz16位模拟/数字转换器针对紫外线……近红外光谱范围可使用不同的分光计模块可选的集成卤素......