白光干涉测量原理
一、用途 （1）二、三维表面形貌测量 （2）膜厚和台阶测量 （3）刻线和沟槽尺寸测量 （4）任意曲面形貌测量 （5）球面和非球面轮廓非接触测量 （6）MEMS器件三维尺寸测量 （7）微光学元件测量 二、仪器构成 （1）宽带光干涉显微镜 （2）垂直位移扫描工作台 （3）摄像及图像处理系统 （4）工控机 三、测量原理 ......
仪器的原理，主要构成与特点与WIVS-I型 基本相同，其区别如下： 1 、干涉显微镜为自主设计，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等显微镜组，用户可根据测量视场范围及横向分辨率的要求挑选。而WIVS—I型由于是6JA干涉显微镜改造而来，其物镜是固定的，为40x。因此WIVS-II型干涉显微镜的测量视场扩大了，显微镜......
STELLARIS白光激光器在为多色实验选择荧光探针时，您无需做出妥协。 现在，您可以超越传统激发源，摆脱在荧光团选择和多元成像能力方面的限制。扩展多色能力。更少妥协。STELLARIS新一代白光激光器（WLL）与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合，使您可自由选择所有光谱，并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。 WLL与我们自有......
Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系......
为了保证测量的准确性和可靠性，浊度仪还需要进行一些预处理操作，如样品过滤、洗涤和稀释等。同时，还需要根据具体测量需求选择合适的光源波长和测量范围，以及校准仪器，以保证测量结果的准确性。【主要特点】l LED光源，满足ISO7027标准；l 采用散射-透射光测量原理，自动色度补偿；l 自动切换量程；l 支持零点和......
ISO 9060:2018 B级反照率测量套件为 CMA6 集成反照率计替代产品，后者目前已停产。两个独立的总辐射表加 上总辐射表安装固定器（板和杆）及防眩罩，提供多种配置选择。CMB1 安装支架可用于将杆子固定到柱子或 墙壁上。- 测量参数：用于测量反射的辐照度与表面接收的辐照度之比（反照率）- 应用行业：光伏，气象，科研，海洋，水文- 仪器特点：一体......
StaRWIS 是第一个使用创新 LED 技术的固定遥感式路面传感器，用于监测路面状况、路面温 度、相对湿度、露点温度、冰点温度、含冰量。 基本配置 规格：高 110 mm, 宽 200mm, 长 100mm 重量 ：1.7kg 存储温度： -40...70°......
徕卡德国 光学表面测量系统 DCM8Leica DCM8 可用于测定表面测量，适用于徕卡3D表面测量系统项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 全面了解3D表面测量学在工业和研究中，，高精度表面分析发挥着至关重要的作用，它可以帮助确保材料和组件实现令人满意的性能，但同时也面临着诸多挑战∶表面结构错综复杂，高倾斜度区域要求横向分辨率达到数微米，而关......
浊度，即光线通过样品时，水体中的悬浮颗粒物，会阻碍光线直线透射透过水层，部分光 线会被吸收或散射的光学特性现象。由悬浮性颗粒物对光线引起的阻碍程度，可用浊度表 示。浊度是一种光学特性，是光线与水中的悬浮颗粒相互作用的结果。测量单位NTU(NephelometricTurbidityUnits)主要特点² 钨卤素灯，符合US EPA 180......