光学厚度测量仪
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：• 测量厚度、折射率、反射率和穿透率：- &n......
F10-HC薄膜厚度测量仪 极具有价格优势的先进薄膜测量系统以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。前所未见的简易操作界面现在，具有新样板模式功能的F10-HC将更容易使用，这个功能允许用......
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.仅需具备基本电脑技能的任何人可在数......
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本多两个位置）。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机......
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统 &n......
Thermo Scientific ™ ShadowMaster 测厚仪对各种材料提供准确、可靠的厚度测量，极大地改善生产过程的控制、改进质量和提高生产率。此测厚仪具有安装快、使用成本低、投资回报率高等特点。特征——厚度测量不受材料类型、颜色的影响。——非放射性，无需许可证——非接触式，不会在产品上留下划痕——片材温度60℃以下，无需仪表空气或水......
技术参数：X射线在线测厚仪： 应用：浮法玻璃生产线冷端厚度和应力测量 测量范围：1－20mm 精度：0.1% 主要特点：特点： 1 测量精度高 2 安装维护方便 3 使用安全环保 4 长期稳定性好 5 在线测量厚度和应力，提高产品质量，降低成本 ......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-17......
半导体材料光生伏特效应是太阳能电池运行的基本原理。现阶段半导体材料的光伏应用已经成为一大热门 ，是目前世界上增长最快、发展最好的清洁能源市场。太阳能电池的主要制作材料是半导体材料，判断太阳能电池的优劣主要的标准是光电转化率 ，光电转化率越高 ，说明太阳能电池的工作效率越高。根据应用的半导体材料的不同 ，太阳能电池分为晶体硅太阳能电池、薄膜电池以及III-V族......
综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 ......