仪器简介:X'Pert PRO MRD/XL是高级半导体材料的标准装备,用于: 高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如: 摇摆曲线分析和倒易空间Mapping, 反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析, X'Pert PRO M......
采用第二代陶瓷X光管专利技术,通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位,用户在更换X光管后无需重新校准路立式测角仪,采用DOPS直接光学位置编码专利技术技术参数:1,功率:3kW2,测角仪重现性:0.0001度3,设备尺寸:1975×1132×1371 mm (H×D×W)灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相......