采用第二代陶瓷X光管专利技术，通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位，用户在更换X光管后无需重新校准路

• 立式测角仪，采用DOPS直接光学位置编码专利技术

技术参数：

1，功率：3kW
2，测角仪重现性：0.0001度
3，设备尺寸：1975×1132×1371 mm (H×D×W)


灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究，均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量，到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定，系统的应用不受任何限制，在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下，均可对块状材料以及薄膜进行分析。
快速——得益于帕纳科荣获专利的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法，只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。
前瞻性——如果出现新的应用，只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途