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牛津仪器EDSX-MaxN适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于高分子材料行业领域。 半导体制造解决方案 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150......
牛津仪器EDSX-MaxN可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性......
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定Metals alloys and ceramics，适用于Metals alloys and ceramics项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 材料成分和结构 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Minerals and Metals，适用于Minerals and Metals项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 工艺矿物学与化学分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Power Semiconductors，适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率......
牛津仪器EDSX-MaxN可以用在高分子材料行业领域，用来检测Polymer Materials，可完成Polymer Materials项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 层状聚合物结构的成像与失效分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Power Semiconductors，适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 失效分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可以用在高分子材料行业领域，用来检测Minerals and Metals，可完成Minerals and Metals项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 工艺矿物学与化学分析 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 ......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Polymers，适用于Characterisation项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many materials and is being ......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Metals alloys and ceramics项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Metals alloys and ceramics等样品。可应用于高分子材料行业领域。 材料成分和结构 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓......