oxford x-maxn 能谱仪
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Pore Fluids，符合行业标准Oxford Instruments。适用Pore Fluids项目。 岩芯分析 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zei大的探测器，分析速度至少是普通探测器的两倍。总览探测......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Polymer Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zei大的探......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Polymer Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性无需为能谱分析改......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Construction Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Construction Materials项目。 机械及电学性能 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性无需为能谱分......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Microstructure and Mechanical Properties，符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Minerals and Metals，符合行业标准Oxford Instruments。适用Minerals and Metals项目。 工艺矿物学与化学分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性无需为能谱分析改变......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Pore Fluids，符合行业标准Oxford Instruments。适用Pore Fluids项目。 岩芯分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性无需为能谱分析改变SEM的条件在相同束流下，极大地提高计数率缩......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Nano Material，符合行业标准Oxford Instruments。适用Nano Material项目。 纳米材料生长和表征 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性无需为能谱分析改变SEM的条件在相同束流下，......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Nano Material，符合行业标准Oxford Instruments。适用Nano Material项目。 纳米材料生长和表征 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zei大的探测器，分析速度至少是普通探测......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性无需为能谱分析改......