天x荧光分析仪
原理区别 X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素......
特征X射线原子中的电子都在一个个电子轨道上运行，而每个轨道的能量都是一定的，叫能级。内层轨道能级较低，外层轨道能级较高，当内层的电子受到激发（激发源可以是电子、质子、a 粒子、l射线、 X射线等），有足够的能量跳出内层轨道，那么，较外层的电子跃迁到内层的轨道进行补充，由于是从高能级上跳往低能级上，所以会释放出能量，其能量以光的形式放出，这就是特征X射线。产品......
工作原理能量色散x射线荧光光谱仪energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脉冲高度分析器进行能量色散的x射线荧光光谱仪公与波长色散x射线荧光光谱仪相比，它的结构简单。可使用小功率x射线管激发和简单的分光系统。采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可提高分辨本领，由微处理机处理，可同时恻定试样中}o一sn......
秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的......
K层电子被击出时,原子系统能量由基态升到K激发态,高能级电子向K层空位填充时产生K系辐射。L层电子填充空位时,产生踟辐射;M层电子填充空位产生Kβ辐射。原子受到X射线的激发,会使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子。跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能......
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣，适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域。 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。一次可同时分析多24个元素，五层镀......
产品说明、技术参数及配置完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性利用新X光管提高仪器的测试效率，并优化产品性能和提高安全防护等级不添加任何硬件设施既可升级分析功能，方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低检测时间短，可以大大提高......
产品说明、技术参数及配置仪器介绍EDX8000L利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照......
产品说明、技术参数及配置秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩......
产品说明、技术参数及配置便携式光谱仪六大性能优势 *更便捷的操作 1、重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有专用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。 2、270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。 3、密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。 4、无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行......