天瑞x荧光分析仪
仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。 天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金......
秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
K层电子被击出时,原子系统能量由基态升到K激发态,高能级电子向K层空位填充时产生K系辐射。L层电子填充空位时,产生踟辐射;M层电子填充空位产生Kβ辐射。原子受到X射线的激发,会使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子。跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能......
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣，适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域。 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。一次可同时分析多24个元素，五层镀......
产品说明、技术参数及配置完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性利用新X光管提高仪器的测试效率，并优化产品性能和提高安全防护等级不添加任何硬件设施既可升级分析功能，方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低检测时间短，可以大大提高......
产品说明、技术参数及配置秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩......
产品说明、技术参数及配置便携式光谱仪六大性能优势 *更便捷的操作 1、重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有专用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。 2、270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。 3、密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。 4、无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行......
产品说明、技术参数及配置仪器介绍EDX8000L利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照......
产品说明、技术参数及配置仪器介绍Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台......