“瑞”意进取 与“质”同行

——天瑞仪器携质谱系列产品盛装亮相BCEIA

     “第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会”（简称：BCEIA）于2015年10月27日在北京国家会议中心隆重开幕，本次大会由中华人民共和国科学技术部批准，中国分析测试协会主办。两年一度的BCEIA，是国内分析测试行业内知名度及专业度最高的盛会。

大会现场

     开展第一天天瑞仪器就受到了行业专家、学者、同行及现场客户的高度关注。天瑞仪器董事长刘召贵博士、总经理应刚先生率公司团队亲临现场，与来访者进行交流互动。

天瑞仪器展台现场

董事长刘博士与来访客户现场交流

总经理应刚先生与来访进行现场交流

天瑞仪器质谱事业部总经理周立博士与客户现场交流

天瑞仪器光谱事业部总经理韦大纶与客户现场交流

     本次展品亮点多多，天瑞仪器全面展示了近两年公司在新产品研发、产品升级、行业应用、解决方案制定等方面取得的丰硕成果。

     天瑞质谱家族的新成员基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF首次亮相展会，就成为了展台现场的关注焦点，作为中国首款具有完全自主产权的商品化基质辅助激光解析/离子源-飞行时间质谱仪，Micro TyperMS的诞生开启了国产生物质谱的新时代；历经3年市场磨砺，2015年全新推出的ICP-MS 2000E，拥有全新的碰撞反应池功能、新型离子源设计、高效准确的自动进样器、软件集成应用分析包，极大的提升了仪器整体性能指标和性价比；备受业界广泛认可的气相色谱质谱联用仪GC-MS 6800，在食品、纺织、RoHS、环境等多个领域的定制方案，更贴心的为客户提供专业的一站式解决方案；国产化的GC-TOFMS系列iTOF-1G、iTOF-2G，具有高分辨率、高灵敏度和高采集速度的卓越性能，实现了飞行时间质谱与快速气相色谱的完美对接；性能卓越、全新配备自动进样器的液相色谱质谱联用仪LC-MS1000；为粮食重金属检测量身打造的EDX 3200S plus C智能型食品重金属快速检测仪、全新一代手持式X荧光光谱仪探索者EXPLORER，创新一体式设计的EHM-X200大气重金属分析仪等明星产品也都悉数登场。

     天瑞仪器承担的  “国家重大科学仪器设备开发专项”的WDX 4000顺序式波长色散X荧光光谱仪也受邀来到“国家重大科学仪器设备开发专项阶段成果展”展示区参加展示。

天瑞工程师给客户介绍WDX4000

     27日晚间，由江苏天瑞仪器股份有限公司和厦门质谱仪器仪表有限公司联合研发生产的基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF喜获2015BCEIA金奖。

飞行时间质谱仪MALDI-TOF喜获2015BCEIA金奖

厦门质谱何坚教授给客户介绍飞行时间质谱仪MALDI-TOF

天瑞工程师指导客户现场操作EXPLORER

天瑞工作人员为客户介绍产品