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牛津仪器刻蚀和沉积设备PlasmaPro 100 Cobra可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 PlasmaPro 100系列刻蚀和沉积设备可安装多种衬底电极，能够在很宽的温度范围内进行工艺，......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra适用于Semiconductor项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Semiconductor等样品。可应用于高分子材料行业领域。 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture Plasma......
安捷伦紫外Cary 5000适用于表征，透射性，杂质检测和识别项目，参考多项行业标准。可以检测滤光片，玻璃等样品。可应用于建材/家具行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选，便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置，以便对各种类型和尺寸的样品进行测......
牛津仪器刻蚀和沉积设备PlasmaPro 100 Cobra可用于测定Semiconductor，适用于Semiconductor项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture Plasm......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE可以用在高分子材料行业领域，用来检测Semiconductor，可完成Semiconductor项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture 我们的设备和工艺已通过......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Power Semiconductors的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 准确的刻蚀深度控制；光滑的刻蚀表面低损伤工艺数字化/循环式刻蚀工艺——刻蚀相当于ALD高选择比能加工最大......
牛津仪器原子层刻蚀PlasmaPro 100 ALE适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 我们的设备和工艺已通过充分验证，正常运转时间可达90%以上，一旦设备安装完毕，可立即投入使用。PlasmaP......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片，适用于反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 Cary 5000 是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计，在 175-3300 nm 范围内具有......
点击查看下载安捷伦Cary 4000紫外 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 由于仪器的光度线性范围限制，仪器随着光密度或浓度的增加测量吸光度的准确度会受到影响。光度线性度差会使仪器产生不正确的结果，并导致校准曲线变得非线性。滤光片技术的加入提供了一种简单而价廉的方法来证明大多数分光光度计的光度线性范围。本文主要介绍通过测试证明了新一代Cary40......
点击查看下载PlasmaPro 100 Cobra半导体检测仪牛津仪器 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 牛津仪器PlasmaPro100 ALE 原子层刻蚀 PlasmaPro 100系列刻蚀和沉积设备可安装多种衬底电极，能够在很宽的温度范围内进行工艺，具有200mm单晶圆和多晶圆批处理能力，该工艺模块可提供具有高度均匀，高产量和高精度的工艺。......