半导体
牛津仪器刻蚀和沉积设备PlasmaPro 100 Cobra可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 PlasmaPro 100系列刻蚀和沉积设备可安装多种衬底电极，能够在很宽的温度范围内进行工艺，......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra适用于Semiconductor项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Semiconductor等样品。可应用于高分子材料行业领域。 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture Plasma......
牛津仪器刻蚀和沉积设备PlasmaPro 100 Cobra可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 PlasmaPro 100系列刻蚀和沉积设备可安装多种衬底电极，能够在很宽的温度范围内进行工艺，具有2......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE可以用在高分子材料行业领域，用来检测Semiconductor，可完成Semiconductor项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture 我们的设备和工艺已通过......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Power Semiconductors的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 准确的刻蚀深度控制；光滑的刻蚀表面低损伤工艺数字化/循环式刻蚀工艺——刻蚀相当于ALD高选择比能加工最大......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE可以用在高分子材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 准确的刻蚀深度控制；光滑的刻蚀表面低损伤工艺数字化/循环式刻蚀工艺——刻蚀相当于ALD高选择比能加工......
牛津仪器原子层刻蚀PlasmaPro 100 ALE适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 我们的设备和工艺已通过充分验证，正常运转时间可达90%以上，一旦设备安装完毕，可立即投入使用。PlasmaP......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片，适用于反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 Cary 5000 是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计，在 175-3300 nm 范围内具有......
安捷伦紫外Cary 5000适用于表征，透射性，杂质检测和识别项目，参考多项行业标准。可以检测滤光片，玻璃等样品。可应用于建材/家具行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选，便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置，以便对各种类型和尺寸的样品进行测......
点击查看下载PlasmaPro 100 Cobra半导体检测仪牛津仪器 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 牛津仪器PlasmaPro100 ALE 原子层刻蚀 PlasmaPro 100系列刻蚀和沉积设备可安装多种衬底电极，能够在很宽的温度范围内进行工艺，具有200mm单晶圆和多晶圆批处理能力，该工艺模块可提供具有高度均匀，高产量和高精度的工艺。......