珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司
400-6699-117转1000
分析测试百科网 > 珀金埃尔默 > 资料下载 > NexION 300S ICP-MS测定半导体级TMAH中的杂质
钻石会员

诚信认证:

工商注册信息已核实!
扫一扫即可访问手机版展台

NexION 300S ICP-MS测定半导体级TMAH中的杂质

发布时间: 2013-07-17 08:18 来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司
资料文件名 下载

010283_01NexION 300SICP-MS测定半导体级TMAH中的杂质.pdf

下载此篇资料

方案优势
四甲基氢氧化铵(TMAH)是一种广泛用于半导体光刻工艺和液晶显示器(LCD)生产中形成酸性光阻的基本溶剂。由于其在此类高要求应用中的广泛使用,使得对TMAH纯度的检测变得越来越重要。由于具有快速测定各种工艺化学品中超痕量浓度待测元素的能力,电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)已成为了质量控制不可缺少的分析工具。然而,解决由基体带来的多原子干扰和由于含有碳造成的基体抑制效应是非常重要的。在直接分析有机溶剂时这些问题就显得尤为突出。本应用报告证明了NexION® 300S ICP-MS去除干扰,从而在使用高温等离子体的条件下通过一次分析就能够对TMAH中全部痕量水平的杂质元素进行测定的能力。
 
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号