tem 半导体
重新构想的大批量自动化 S/TEM 成像和测量技术成像和计量技术快速、准确的数据精准的数据。Metrios DX 是一款彻底重新设计的 80-200 kV 扫描 / 透射电子显微镜，能够以前所未有的吞吐量提供基于 TEM 和 S/TEM 的、可重复的成像、分析和可测量计量结果。Thermo Scientific™ Metrios™ DX TEM 将成熟的技术......
Thermo Scientific™ Spectra™提供先进的原子级成像和分析 2019年赛默飞世尔科技推出Thermo Scientific Spectra 透射电子显微镜（S/TEM），旨在通过提供先进的原子技术加速突破性发现在一个工具中进行成像和分析。Spectra结合了市面上最高的SEM/TEM图像分辨率规格和高灵敏度，使所有经验水平的用户能够产......
Thermo Scientific™ Metrios™ AX S/TEM 是一款 60–200 kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)，它采用全新设计，能够在前所未有的通量水平上提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和测量结果。Metrios AX S/TEM 配有一套软件，可支持提升生产率的自动化功能、基于机器学习的导航和全天候自动化等功......
中文名：纳米氧化铈英文名：Cerium oxide纯度：≥99.95% metals basis, 电子材料 > 无机和金属纳米材料应用 > 先进材料与制造 ......
中文名：碳英文名：Carbon纯度：纳米粉末,＜100 nm 粒径 (TEM)货号：C434781Cas号：7440-44-0产品介绍：碳纳米粉末具有非石墨结构，即不具有长的结构顺序。应用将纳米碳粉用于氧化处理纳米碳的对比研究。非石墨碳可以以涂层的形式用于锂离子电池。制备说明通过激光技术形成的无定形材料。查看阿拉丁官网此产品相关对应页面：https://ww......
中文名：铂英文名：Platinum纯度：纳米粉末 电子材料 > 无机和金属纳米材料 ......
赛默飞Helios 5 DualBeam 聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）
参考成交价格： 暂无
Thermo Scientific 双束聚焦扫描电镜（FIB-SEM）
型号：Helios 5 DualBeam
DUALBEAM 显微镜Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作，简单易用，并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列领先业界的高性能电子显微镜成像......
全自动、高生产率的半导体计量工作流程Thermo Scientific Metrios 6 （S）TEM 是新一代全自动计量解决方案，可提高生产率和数据质量，适用于大批量 TEM 计量。Metrios 6 （S）TEM 具有全新设计的硬件和基于机器学习的功能，与上一代解决方案相比，生产率平均提高了 20%。Metrios 6 （S）TEM 包括新的智能载物台......
Thermo Scientific™ Metrios™ AX S/TEM 是一款 60–200 kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)，它采用全新设计，能够在前所未有的通量水平上提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和测量结果。Metrios AX S/TEM 配有一套软件，可支持提升生产率的自动化功能、基于机器学习的导航和全天候自动化等功......
[ 产品简介 ]蔡司 Crossbeam 750 专为高质量失效分析与高精准TEM制样量身打造。三大核心技术：全新的Gemini 4电子光学系统、升级的“HDR”实时观察技术、全面革新的控制软件，可以为您带来更稳定、更准确、更高效的设备使用体验，是先进制程半导体领域的新选择。 [ 产品特点 ]√超高分辨：全新的 Gemini 4电子光学系统√实时成......