尼康 激光共聚焦显微镜
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。系统中预设了许多极坐标形、......
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统 &n......
Alpha-Step D-500 Stylus Profiler Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述Alpha-Step D-50......
Nanosurf AFSEM™真空环境用原子力显微镜产品主要特点:实时在您的真空环境中进行AFM分析方便集成在SEM中进行相关AFM分析兼容于大多数电镜而不影响SEM正常操作可适配真空腔室环境兼容大气环境测量操作简便而直观 ......
产品特点* 主控频率1Hz - 200Hz* 被动防振频率 >200Hz* 5-20毫秒的响应时间* 安装简单,容易使用* 能无故障连续使用多年* 紧凑、模块化的多功能设计* 多种顶板支持各种研究及应用产品应用* STM &n......
高分辨率，精确成像凭借对各种类型样品进行精确3D测量的能力，系统可提供用于质量保证和工艺控制的可靠数据。 卓越的横向分辨率 405纳米紫色激光和专用高数值孔径物镜可以捕捉到传统光学显微镜、白光干涉仪或红色激光显微镜难以发现的精细纹理和缺陷。红光型（658纳米：0.26微米空间)微米紫光型（405纳米：0.12线和空间)一致的测量值 LEXT专用物......
R54电阻率测量仪 高级薄膜电阻率测绘系统Filmetrics R54是KLA薄膜电阻和导电率测绘系统的新创新。R54是代表了KLA超过45年的电阻测量技术地位的巅峰之作。自从1975年我们台电阻率测试仪问世以来，KLA公司系列产品已经彻底颠覆了导电薄膜得薄膜电阻和厚度的测量方式。从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品，薄膜电......
EST 主动式防震系统来自日本马自达集团下全资子公司 KURASHIKI ，有着超过 30年历史的已成为主动隔振系统供应商的，且在这个领域上有着相当丰富的经验。于此同时 KURASHIKI 测量技术取得了巨大的进步，一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，只有主动隔振系统才能消除共振。 KURASHIKI 通过在发展主动......
尼康将共聚焦成像提高到前所未有的水平 尼康新的强大的全自动共聚焦成像系统，能够高速高灵敏度地获得细胞和分子事件的高质量共聚焦图像。前所未有的新光学电子技术创新设计使得A1拥有空前的系统质量和灵活性，是适用于广大用户的理想工具。 | 概述&nbs......
C2+共聚焦显微镜是尼康共聚焦产品系列中的一个基本型号。C2+被设计为实验室必不可少的显微镜工具，提供强大而精准的成像能力。高效率的扫描头和检测器与尼康无与伦比的光学元件相结合，可提供出众的共焦图像。高速检流式扫描振镜能以高达100 fps（8倍变焦或更大）的速率运行，可以精确捕捉心肌的快速跳动。该系统可以在一次扫描中同时采集多色荧光和DIC图像。对于需要光......