tem 晶体
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在......
牛津仪器EDSX-Max TEM用于测定Nano Material，符合行业标准Oxford Instruments。适用Nano Material项目。 纳米材料生长和表征 X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDDX-Max N TEM探测器采用新......
牛津仪器EDSX-Max TEM用于测定Minerals and Metals，符合行业标准Oxford Instruments。适用Minerals and Metals项目。 工艺矿物学与化学分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与低能端X射线的高灵敏度出色的......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM用于测定Minerals and Metals，符合行业标准Oxford Instruments。适用Minerals and Metals项目。 工艺矿物学与化学分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与低能端X射线的高灵敏度......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Polymer Materials，适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于生物质材料行业领域。 聚合物添加剂分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与......
牛津仪器EDSX-Max TEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Construction Materials的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Construction Materials项目。 机械及电学性能 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM用于测定Metals alloys and ceramics，符合行业标准Oxford Instruments。适用Metals alloys and ceramics项目。 材料成分和结构 X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDD......
安捷伦紫外Cary 7000用于测定晶体材料，符合行业标准。适用二色性项目。 多色性是一种透明晶体从不同角度观察会产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于阴影的变化，如从浅粉色变成深粉色。晶体可分为光学各向异性（立方晶体体系）、光学各向异性单轴（六角、三角晶体体系）和光学各项异性双轴（斜方、单斜、三斜晶体体系）几类。最大的变化仅限于三种颜色变化，这种现象......