tem sem
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Polymer Materials，适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于生物质材料行业领域。 聚合物添加剂分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与......
点击查看下载（原FEI） 透射电镜 TEM赛默飞FIB-SEM 其他资料相关资料，进一步了解产品。 锂电池是人类可再生清洁新能源发展的重要一环。我国已把“碳达峰“与”碳中和“纳入了政府重点工作计划。一方面，研究人员不断探索通过新材料、新技术增加锂离子电池的能量密度，构建新的能源存储和输出生态；另一方面，其安全性也需要在严格把控的基础上不断提高。 ......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载Scios 2 DualBeamFIB-SEM（原FEI） 透射电镜 TEM 应用于汽车/铁路/船舶相关资料，进一步了解产品。 产品描述： Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统，可为的最广泛类型的样品，包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 Dua......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
点击查看下载Scios 2 DualBeamFIB-SEM（原FEI） 透射电镜 TEM 应用于新能源相关资料，进一步了解产品。 锂电池是人类可再生清洁新能源发展的重要一环。我国已把“碳达峰“与”碳中和“纳入了政府重点工作计划。一方面，研究人员不断探索通过新材料、新技术增加锂离子电池的能量密度，构建新的能源存储和输出生态；另一方面，其安全性也需要在严格把控的......
产品描述：ThermoScientific Scios2DualBeam是一款超高分辨率分析系统，可为的最广泛类型的样品，包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。Scios2DualBeam系统创新性的功能设计，优化了样品处理能力、分析精度和易用性，是满足科学家和工程师在学术和工业环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。Scios2DualBe......