x射线散射角
仪器简介： X射线衍射仪是应用面zei广的X射线衍射分析仪器。X射线衍射仪主要应 用于样品的物相定性或定量分析、晶体结构分析、材料的结构宏观应力 的测定、 晶粒大小测定、结晶度测定等，根据实际需要可以安装各种特 殊功能的附件及相应控制和计算机软件，组成具有特殊功能的衍射仪。 &......
仪器简介： MCR流变仪的光学测量控温平台，可以实现一平台多功能的目的，在一个光学控温平台上，可以进行显微可视、UV光固化、偏光成像、荧光显微、小角激光散射（SALS）、红外光谱联用、拉曼光谱联用等流变-光学同步测量功能，可以在进行流变测试的同时观察样品的微观结构、进行光谱分析。 ......
JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针（FE-EPMA），此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域，并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus，电子光学系统有了很大的改进，新的软件能提供更高的通量，并保持着极高的稳定性，能实现更广泛的EPMA应用。2003......
MCR102e/MCR302e模块化智能型高级流变仪 MCR流变仪：创新科技，引领未来 作为市场领导者的安东帕MCR系列流变仪首要提供给您的是：无限可能。无论您当下和未来的流变测量要求如何变化，无论是日常质量控制还是高端研发，MCR流变仪都能凭借其模块化系统高效、轻松地满足......
仪器简介： ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析。48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景。双真空,双泵设计,节省抽真空时间。防粉尘附件,可防止粉末掉......
磁流变模块 (MRD) 磁流变设备（Magneto-Rheological Device，MRD）与 MCR 流变仪配套使用，可以分析磁场对磁流变液（magnetorheological fluids，MRF）和铁磁流体的影响。可施加最大为 1 特斯拉的均匀磁场。特点1 在高达 1 特斯拉（使用 TwinGapTM 可高......
仪器简介： X射线衍射仪是应用面zei广的X射线衍射分析仪器。X射线衍射仪主要应用于样 品的物相定性或定量分析、晶体结构分析、材料的结构宏观应力的测定、 晶粒大 小测定、结晶度测定等，根据实际需要可以安装各种特殊功能的附件及相应控制和 计算机软件，组成具有特殊功能的衍射仪。 1、 X射线发生器（进口PLC控制技术） ......
上市时间：2019年9月集样品全自动传输、全自动分析、智能数据采集处理于一体，体现了的超强的便捷性；拥有多种X 射线源、大半径双层能量分析器，杰出的荷电中和技术，使其获得了卓越的性能；通过丰富的硬件接口和灵活的软件接口，具备了多种功能附件和完善的表面分析技术。产品介绍岛津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作为高端光电子能谱仪将采谱、成像功能与自动化高......
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量......
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量......