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波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus Ⅳ

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参考报价: 面议 型号: ZSX Primus Ⅳ
品牌: 理学 产地: 日本
关注度: 274 信息完整度:
样本: 暂无样本 典型用户: 暂无
产地属性亚洲价格范围200万-300万
仪器类型扫描型
分析元素种类4Be-92UX射线光管功率4kw

仪器简介:

    ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析。48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景。双真空,双泵设计,节省抽真空时间。防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵。微区分析可达500,适合少量样品分析。 

    软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描。应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中。FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析。流程条,按顺序显示测试处理内容。标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户。 

维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便。


技术参数:

硬件: 

1. 对应超轻元素的X射线光管:采用4kW、30μm薄窗X射线光管,可高灵敏度测试超轻元素。 

2. 采用新型光学系统:采用新型分光晶体,与第二代仪器分光晶体相比,大幅度提高了灵敏度。 

3. 48样品交换器:实现平台式共享化,可放置48个样品,多样品交换器实现了省空间。 

4. 1次X射线滤光片:除去X射线光管的特征X射线光谱,在减低背景干扰方面发挥威力。 

5. 双泵、双真空系统:采用双真空系统(样品室/预抽真空室);防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统的    结构设计,样品交换实现更高效率。 

6. 粉末附件:电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入真空泵内。 

7.定点分析: 

    100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 

    采用r-θ样品台,避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰,可得到很佳灵敏度分析结果。(无r-θ样品台) 节能、节省空间、节能功能(自动减少X射线光管输出)减少冷却水量5L/min(水温30以下)PR气体流量减少(5mL/min)省空间。采用联体设计,设置面积只占传统仪器70%的空间。便于维护PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗。 


软件: 

1. 新版SQX软件:在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。 

2. 委托分析EZ扫描:采用对话框形式设定,可进行SQX分析。 

3. 定角测试模式:微量元素,采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法,使用抑制统计变动的X射线强度,算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 

4. 应用模板 :各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 

5. 散射线FP法: 

   不需设定非测试成分,也可以准确分析。散射线强度计算,可以考虑几何学效果,没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品,使用SQX软件,可以简单、准确地进行分析。 

流程条: 测试、处理流程显示。根据流程条内容,击鼠标键,便可按顺序进行所需的测试、处理。 

其它特点的软件功能: 

 SQX分析功能 

 Mapping数据库 

 材质辨别 

 理论重叠校正 

 自动程序运转 

 校正投入量计算 


 应用软件包: 

 应用软件包,设定样品(标准样品、漂移校正样品) 

 CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。


主要特点:

1. 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高 

2. 配备全新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 

3. 重金属的高灵敏度分析-采用全新型光学系统 

4. 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 

5. 完美的无标样分析-全新的SQX软件 

6. 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间


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