上海电子显微镜分析
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
赛默飞集成能谱场发射扫描电镜Apreo ChemiSEM引言研究先进材料需要对样品的微观形貌、结构和化学成分有深刻的理解。无论您是在研究下一代创新型材料，还是专注于产品开发和制造，了解材料的微观特性都至关重要。Thermo Scientific™ Apreo™ ChemiSEM™系统彻底革新并简化了这些分析。通过将高分辨率成像、元素分析和结构分析的硬件和软件......
在现代工业生产的快节奏洪流中，质量控制是企业的生命线。然而，在许多涉及化学反应的生产环节——如电镀表面处理、新能源锂电池电解液制备、石化磷化工艺等，传统的“人工取样+实验室化验”模式正成为制约效率与品质的瓶颈。取样滞后、数据失真、人力成本高企、异常响应慢……这些痛点是否也在困扰着您的生产线？上海禾工科学仪器有限公司深耕分析仪器领域多年，针对工业过程控制的迫切......