直播 | TESCAN 重启前沿材料表征研讨会

2024-05-13 12:24:40, TESCAN中国 TESCAN(中国)


TESCAN 材料科学 双束电镜

前沿多模态材料表征技术-

TESCAN 等离子双束电镜

Dean Miller 博士 TESCAN 首席科学家 

2024年5月16日(周四)下午3:00

继我们上一次研讨会引起极大兴趣之后,我们很高兴地宣布将重启关于等离子FIB-SEM用于多模态材料表征的研讨会。

加入我们的互动会议和现场问答环节吧!我们的专家将分享他们在材料表征技术最新进展方面的知识。

主持在线会议的将是TESCAN的首席科学家Dean Miller博士。Miller博士在材料科学领域拥有丰富的经验,并在冶金工程前沿领域工作多年,为本次网络研讨会带来了无与伦比的专业知识。

内容预告

集成表征技术

扫描电镜成像和微分析工具(如EDS、WDS、EBSD、拉曼光谱和TOF-SIMS)如何协同工作,进行深入的材料分析。

高效大面积切割

氙离子双束电镜在高通量、大面积离子切割方面的能力,非常适合加工高达1毫米的横截面。

减少样品损伤

在研究敏感材料时,尽量降低样品损伤是非常重要的,这是使用氙离子双束电镜的一个关键优势。

无污染样品制备

确保清洁无污染的制备技术,对于铝和锂离子电池等材料至关重要。

增强的2D和3D表征

使用TESCAN AMBER X 氙离子双束电镜,让2D和3D多模态表征细节尽显。

您将收获技术知识 实践技能

无论是学术研究还是工业研发,参与者将深入理解如何有效利用这些技术应用到自己的领域中。研讨会旨在增强您在现代材料表征方面的技术知识和实践技能,帮助您应对并克服复杂材料所带来的挑战。

info.tescan.com/matsci-fib-sem

现在注册

✦ 


  • 客服电话: 400-6699-117 转 1000
  • 京ICP备07018254号
  • 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
  • 京公网安备1101085018
  • 客服电话: 400-6699-117 转 1000
  • 京ICP备07018254号
  • 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
  • 京公网安备1101085018

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved