90秒了解JW-TB400比表面积及孔径分析仪

2024-02-18 15:59:35 北京精微高博仪器有限公司

JW-TB400比表面积

及孔径分析仪

产品宣传片

TB系列比表面积及孔径分析仪，是北京精微高博仪器有限公司最新推出的表征纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。采用常用的可靠的静态容量法气体吸附法分析材料吸附行为。

NO.1

Vtech技术

Vctrl防抽飞控制技术

Vspace冷自由空间控制技术

Vstable稳定测试技术

Vlevel液氮面控制技术

NO.2

性能特点

测试精度与范围：比表面积范围>0.0005 m2/g；标准样品测试重复性(相对标准偏差)<1%；孔径范围：0.35-500nm；实现介孔和大孔的精确分析,孔径重复性(标准偏差) ≤0.2nm；孔体积范围：>0.0001 cm3/g测试效率高:可同时进行最多四个样品分析,使BET比表面积测试效率最高达20min/样，满足生产、科研等领域中对测试量需求比较大的客户的使用要求。

集联与远程访问:分析站可扩展至8站、12站等，一台电脑实现无限集联与控制，可远程访问控制上位机电脑。

独立真空脱气:可选配4站、8站静态真空脱气机。

数据分析：完整的物理吸附计算模型供灵活选择。

2024

精微高博（JWGB）成立于2004年，推出中国第一台静态容量法氮吸附仪JW-RB，被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”。20年来已发展为集研发、制造、销售、服务于一体的国家级高新技术企业，专业从事比表面积及孔径分析仪、多组分竞争分析仪、化学吸附仪、重量法吸附仪、变温变压吸附仪、高压吸附仪和压汞仪等吸附类仪器，以及微反评价装置、真密度仪、磁浮天平热重分析仪等分析仪器的研究，是中国材料表征仪器的领先制造商，产品销售全球几十个国家和地区，以“赋能科技进步，帮助客户解决分析领域的问题和挑战，提高实验室生产力”为使命，致力于向全球客户提供高质量、高易用性、高性价比的产品和服务。

服务热线
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