2021-05-28 10:27:00, Park原子力显微镜 Park帕克原子力显微镜
Park Journal
特氟龙表面上单个PTFE分子的
高分辨率成像
图1:特氟龙表面大范围的高度和轻敲相位图像。a.高度图像,512 x 512像素,扫描速率0.5Hz。b.与图像a同时获取的相位图像。c.512x512 像素的相位图像,扫描速率为4Hz。d.高分辨率相位图像,显示了512 x 512 像素的结晶区和非晶区,扫描速率为4 Hz。由Park Systems大样品AFM设备NX20所获取。
图2:显示单个PTFE分子的特氟龙表面的高分辨率AFM图像。a.–高度图像,512 x 512像素,扫描速率2Hz。b.–相位图像,512 x 512像素,扫描速率4Hz。c.–相位图像,512 x 512像素,扫描速率6Hz。所有图像均使用Multi75Al-G悬臂,利用第3种本征模式在1.1Mhz和1.15nm的Setpoint下采集。d. –横截轮廓曲线,说明了阶梯的周期性。由Park Systems大样品AFM设备NX20所获取。
1. 用于故障分析和大型样品研究的领先纳米计量工具。
2. 将XY和Z扫描器分离,实现探针与样品间的真正非接触,避免形貌扫描过程中因探针磨损带来的图像失真。
3. 真正非接触模式可保证最佳探针寿命,高分辨率以及更好的保护样品。
Contact:
Vladimir Korolkov
Park Systems UK Ltd.
MediCity
Nottingham, UK
pse@parksystems.com
www.parksystems.com
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https://analyticalscience.wiley.com/do/10.1002/was.0004000110
References
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