网络讲座复播视频：原子力显微镜缺陷检测的相关应用

Park Systems

原子力显微镜缺陷检测的相关应用

高彦伟 (Park Systems)

Park资深技术支援工程师

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报告介绍：

演讲题目: 

原子力显微镜缺陷检测的相关应用

半导体生产制造工艺中，缺陷是影响良率的主要因素之一。

及时地发现和检测缺陷，分析理解缺陷的表现特征和性质，能够对产品的质量控制和增加制成等过程的效率起到关键性作用。所以能够正确和精准地对缺陷进行检测，测量和分析的设备是不可或缺的。

Park 原子力显微镜及其一系列集成功能设备，能够帮助用户高效精准地检测缺陷，快速有效的表征缺陷，全面可靠的分析缺陷。从而为用户提供缺陷检测-测量-表征-分析-修复的一站式完整性解决方案。

讲师介绍：

高彦伟， Park资深技术支援工程师，从事原子力显微镜售后及应用端客户支援工作近10年，

有着丰富的国内外客户产品demo经验和长期客户端支援的现场经验。目前担任国际客户支援组经理，负责全球Park海外客户的技术支援管理。

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