相聚南京 I 第十届中国FIB技术及学术交流研讨会

11月14-15日，2019年度第十届中国FIB技术及学术交流研讨会在南京四方酒店成功举行。

本次会议受中国电子显微镜学会FIB专业委员会委托，由南京大学固体微结构物理国家重点实验室、南京南智先进光电集成研究院有限公司和西安凯普纳信息科技有限责任公司联合承办。

大会邀请北京大学，南京大学，上海交通大学，重庆大学，兰州大学，北京航空航天大学，北京科技大学，天津大学，上海大学，中国科学院地质与地球研究所，国家纳米中心和中国科学院苏州纳米研究所作学术报告的18位专家学者做了学术报告，近百位国际和国内FIB专家学者出席了会议。

本次大会，TESCAN有两家联合实验室的老师做了精彩报告。11月14日上午，兰州大学电镜中心张军伟老师的的报告题目是《α-In2Se3的压电性质和应用》，利用Raman、FIB、TEM 和 PFM 等表征手段验证了二维材料 α-In2Se3 从单层到块体都存在面内外压电效应，面内外压电的产生归功于其晶体结构的非中心对称性，并应用 α-In2Se3 合成了一种柔性的纳米发电机，可作为能量收集单元和电子皮肤。

兰州大学电镜中心是TESCAN在国内建立的第一家联合实验室，配置有球差、冷冻、STEM、HRTEM 等5台 TEM，TESCAN LYRA 镓离子源 FIB-SEM 主要承担为 TEM 制样、截面观察等工作，这是甘肃省第一台 FIB，也是目前唯一一台。

10月14日下午，上海交通大学分析测试中心的张莹老师做报告，她的题目是《FIB 和 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱技术在材料表征中的应用》。

上海交通大学分析测试中心于2017年和TESCAN建立联合实验室，在国内高校中第一家购置 FIB 与 TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱）联用系统。分测中心充分利用 FIB-SEM 与 TOF-SIMS 联用技术的氢、锂全元素分析、高空间分辨率、高灵敏度检出限和同位素分析等能力，为校内和社会科研提供支撑，已经取得了丰硕的成果，目前仪器已经运行1年半，支持文章发表24篇，累计影响因子达218.9。

TESCAN 公司也出席了大会，应用部经理李威博士做了报告，题目是《TESCAN 多种离子源在材料加工和表征中的应用》。

李威博士介绍 TESCAN 公司的产品线涵盖面非常广，尤其是 FIB，我们现在有三款的 Ga-FIB、三款 Xe-FIB，还要一款特殊的定制化的 NanoSpace，不但可以完全可以满足FIB常规的截面制备、透射制样、微区加工和三维重构等工作，还具有一些独特的技术使得在进行这些技术的时候能够更加精准和快捷。比如联用光镜数据可以方便的定位感兴区域、联用 EBSD 数据对制备具有特定晶界相界或者取向的TEM薄片；一次性采集可以获得多个不同尺度、区域、分辨率的三维数据等。此外在所有的FIB上面都可配备TOF-SIMS以提高仪器的分析性能，并且所有电镜上还能进一步加装拉曼光谱，以形成 TESCAN 一直倡导的 All-In-One 综合微分析系统。

李威博士重点介绍 FIB-SEM 与 TOF-SIMS 联用技术与其他表征手段的不同，并举了很多应用的实例，例如轻元素的低含量、高空间分辨率表征，一直是业内的难点，而随着新能源产业的发展已经变得越来越重要，氢元素关系到金属的氢脆、渗氢的工艺，还有储氢材料的科研，而锂的领用已经广泛进入日常的生活，中子照相等手段虽然可以实现表征，但完全无法普及，严重限制了应用，而 FIB-SEM 与 TOF-SIMS 联用技术可以很好的满足分析需求，对科研有很好的推动。

TESCAN可以配置 Ga、Xe 和 ExB 选择性等三种不同离子的镜筒系统，都有各自的加工特点和分析优势，适用于不同的应用领域。双束不仅仅是一个精密的微区加工手段，更成为了一种具有超高空间分辨的独特分析利器。而 TESCAN 对于双束系统的理解是加工和分析并重，缺一不可。

李威博士介绍，随着国际和国内客户科研成果的不断涌现，All-In-One 的理念已经被广大老师认同，所以近年来 TESCAN 的客户群体有了长足的进步，这也要感谢TESCAN用户们的辛勤努力。

两天的时间一晃而过，让我们明年相约西安，也期盼更多的 TESCAN 用户能展现自己的科研成果。