半导体超痕量分析新选择 | 安捷伦 PFA‑ST MicroFlow 微流量雾化器

针对这些需求，安捷伦推出全新 PFA‑ST MicroFlow 微流量雾化器，为 ICP‑MS 用户提供更加灵活、高效的样品引入解决方案。

PFA‑ST MicroFlow 采用高纯 PFA 材料制造，已被众多半导体客户广泛采用，可满足超低背景和超痕量分析要求。相比传统样品引入系统，其材料洁净度更高，有助于降低污染风险，保障检测结果的可靠性。

PFA‑ST MicroFlow 的创新之处在于采用可拆卸毛细管设计。用户可根据流速需求更换不同规格毛细管，同时在发生堵塞时快速维护，大幅降低停机时间和使用成本。

产品提供 20、50、100、200 和 400 μL/min 等多种自吸流速选择，可根据不同样品类型和分析需求灵活配置。同时兼容 I‑AS 与 SPS 4 自动进样器探针，方便用户升级现有系统。

                 

                 

                 

                 

                                                                           

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