告别耗时与损伤，蔡司Dotscan为光学加工提供高精度无损检测新方案

在光学加工领域，纳米级复杂曲面的最终检测通常依赖昂贵的专用设备。为保护核心资产并提升产线整体效率，制造商亟需在中间工序进行可靠的快速检测。传统接触式测量面临多重挑战，比如为保护表面只能进行单点测量，单件耗时长达数小时且数据密度不足，在应对亚微米级面型要求时较为吃力，以及功能单一，无法对透明材质进行厚度测量。

Dotscan是蔡司生态中的一款非接触式光谱共焦传感器。它可与现有的蔡司PRISMO三坐标测量机结合，将传统的“点”测量升级为高速“面”扫描，重塑中序检测流程。

在实际客户测试中，蔡司PRISMO fortis与Dotscan 1mm的组合方案表现卓越。该方案能够将中间工序的检测效率提升50%以上，直接加速了生产节拍。在提升效率的同时，保障了测量精度，提供具备亚微米级重复性的可靠数据，确保加工质量全程可控。此外，功能上实现了重要扩展，可一站式完成面型与厚度测量，并以完全非接触的方式确保对昂贵工件的无损检测。该组合还具备快速部署的优势，可便捷地在现有PRISMO测量机上集成，帮助用户迅速形成可靠的测量能力。这一方案将高端干涉仪等核心设备从繁琐的中间检测中解放出来，使其能专注于最终质检，从而提升了整体设备的投资回报率。

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