网络研讨会丨桌面电子显微镜的元素分析优化方案

2026-01-20 15:56:28 布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)




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近期,日立的TM4000PlusⅢ显微镜与布鲁克的QUANTAX EDS系统均完成重要升级,实现了高通量元素分析(QUANTAX 75-60)。本次网络研讨会中,我们将与HITACHI日立共同展示,以往仅能在高端电镜上实现的EDS分析,如今也可以在紧凑、用户友好的台式扫描电镜上完成。


日立新推出的TM4000PlusⅢ台式扫描电镜提供更高的束流,进一步提升了EDS采集效率。布鲁克的QUANTAX EDS解决方案现在能够在大束流条件下最大化计数率。最新的ESPRIT Compact软件搭载LiveMap功能,可实时识别感兴趣区域,从而提升工作流程效率。


对用户而言,这些改进将带来更佳的操作体验,采集速度与数据质量均显著提高,即使是束流敏感、表面不平或含有多重重叠元素等具有挑战性的样品,也可在几分钟内完成分析。


本次网络研讨会将介绍TM4000PlusⅢ SEM的新功能,包括更高束流、灯丝指示器、探针束流监控器,以及全新的无代码/低代码自动化工具。这些强大工具使紧凑型SEM能够执行类似大型落地式扫描电镜的复杂自动化任务。


您将看到,在不到5分钟的时间内,如何实现对电池、粉末、合金、矿物等多种材料的高质量元素分布图分析,以及EDS如何轻松识别并定量分析复杂或镶嵌样品中的微小颗粒与不均匀元素分布。

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▲HITACHI TM 4000Plus III | 内置BRUKER QUANTAX 75-60 EDS


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▲QUANTAX 75-60 Mapping元素分布图




研讨会时间



2026年1月22日,17:00(北京时间)



参会方式



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