【网络研讨会】基于可重构FPGA的并行IC测试验证解决方案

随着集成电路(IC)复杂度的不断提升，IC设计验证和测试方案面临的挑战日益增多。首先，测试方案需要具备更高的灵活性，以应对快速变化的设计要求，并加速产品的研发周期。其次，随着混合信号测试需求的增加，以及测试点数量的迅速扩展，自动化测试成为提升效率的关键。然而，当前多品牌仪器的自动化控制却常常面临兼容性差、操作复杂等问题，导致自动化水平不足。同时，集成电路测试系统的维护和校准工作往往耗时且成本高昂，需要较高的财务和人力成本。因此，工程师们需要在确保测试质量的前提下，降低测试成本并提高系统的灵活性和自动化水平。

Moku凭借其强大的可重构测试技术，集成了15+种仪器功能于一台设备中，实现信号生成、测试分析和控制调节，提升测试效率。

通过多仪器并行模式，结合 Python/LabVIEW 自动化编程，用户可以灵活组合并同时运行多个仪器功能，大大加速产品验证和测试流程。最新型号 Moku:Delta 配备8个输入/输出通道，支持0Hz至2GHz宽频段多通道同步测量，超低底噪，显著提高精度和数据一致性，满足半导体器件与IC测试验证灵活、准确与高效的需求，尤其适用于电源芯片、RF芯片及硅光芯片等领域测试验证。

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