TOFWERK 和 Weltall（沃亚科技）联合展位——SEMICON Taiwan 2025

2025-08-21 16:05:12, TOFWERK TOFWERK中国-南京拓服工坊



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2025.8.20


TOFWERK-Weltall（沃亚科技）联合展位——SEMICON Taiwan 2025


TOFWERK




TOFWERK



      TOFWERK诚邀您莅临2025年9月10日至12日在台北南港展览馆一馆举办的SEMICON Taiwan 2025展会，我们将与长期合作伙伴Weltall（沃亚科技）共同参展。届时我们将携手展示半导体AMC监测解决方案及半导体制程监控解决方案。

      SEMICON Taiwan展会为微电子供应链及其终端市场搭建了绝佳平台，既是与同事、合作伙伴及客户重聚的良机，也是建立新业务联系的理想场所。

     Weltall（沃亚科技）作为综合性系统服务提供商，始终致力于为半导体及相关行业开发创新的"气体监测系统"及制程设备。


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展厅信息

欢迎莅临Weltall（沃亚科技）P5106展位（南港一馆P区1楼），与我们的技术专家探讨适用于半导体研发与生产环境的超灵敏实时化学分析解决方案。



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SEMICON 2025 明星展品

“1 for n" AMC监测管控方案
TOFWERK半导体AMC监测仪可实时监控各类已知及新兴分子污染物。该解决方案采用快速切换、高灵敏度飞行时间化学电离质谱技术，实现对多种类AMC污染物的同步精准监测。

稳定灵活的全流程监测方案
 TOFWERK半导体工艺分析仪采用电子电离飞行时间质谱技术，可实时同步检测分析所有前驱体、副产物及痕量物质。该解决方案配备高性能高速分析软件，专为应对半导体制造中的严苛监测需求而设计，能快速无干扰地识别工艺偏差。



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