二次电子图象分辨率 | 1.2nm @ 30keV | 放大倍数 | 1~1,000,000 x |
背散射电子图像分辨率 | 2.0nm @ 15keV | 加速电压 | 200V-30kV (减速模式下可低至 50V) |
稀土(Rare earth)是元素周期表中的镧系元素和钪、钇共十七种金属元素的总称。自然界中有250种稀土矿。
最早发现稀土的是芬兰化学家加多林(John Gadolin)。1794年,他从一块形似沥青的重质矿石中分离出第一种稀土“元素”(钇土,即Y2O3)。
因为18世纪发现的稀土矿物较少,当时只能用化学法制得少量不溶于水的氧化物,历史上习惯地把这种氧化物称为“土”,因而得名稀土。
TESCAN综合矿物分析仪(TIMA)是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜,适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。
TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了前所未有的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计(电子枪的恒真空与隔绝阀)提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准,低真空模式为选配。
大
样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径zei大为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32
mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒(BSE信号校准)与锰、 铜、
石英、碳和金元素(系统性能检查)。标准校准的元素可以根据客户要求定制。
配件:
TESCAN TIMA-X FEG 集成矿物分析仪 稀土寻找,TIMA-X FEG
TESCAN TIMA-X FEG 集成矿物分析仪 稀土寻找信息由TESCAN(中国)为您提供,如您想了解更多关于TESCAN TIMA-X FEG 集成矿物分析仪 稀土寻找报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。