S8000型超高分辨场发射扫描电镜

追求ji致性能！完成具挑战性的纳米分析工作。

TESCAN推出了全新yi代S8000系列扫描电镜，目前包括：S8000型超高分辨场发射扫描电镜和S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜。

S8000 FE-SEM

全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。 S8000 FE-SEM的优点： 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及

S8000G FIB-SEM

S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员，是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统，它可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作，可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的优点： 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-

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 S8000 系列（NEW ! ）S8000 FE-SEM

全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。

S8000 FE-SEM的优点：

· 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力

· 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析

· 配置4个新yi代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面

· 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境

· 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并du家实现与Raman联用

S8000 系列（NEW ! ）S8000G FIB-SEM

S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员，是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统，它可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作，可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的优点：

· 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力

· 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析

· 配置4个新yi代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面

· 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境

· 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，并du家实现与TOF-SIMS、Raman联用

· 新yi代操作软件和自动功能，FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中，极大简化了操作