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光谱反射薄膜测厚系统 型号:SR500

北京燕京电子有限公司

光谱反射薄膜测厚系统  型号:SR500

仪器简介:高精度,高性价比, 操作简单方便,覆盖从紫外 可见光 近红外的光谱测试范围,更有效的实现对薄膜样品的全面分析 广泛应用于: 半导体制造 (PR, Oxide, Nitride..) 液晶显示器(ITO, PR, Cell gap&

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