高精度，高性价比， 操作简单方便，覆盖从紫外 可见光 近红外的光谱测试范围，更有效的实现对薄膜样品的全面分析

广泛应用于：

半导体制造 (PR, Oxide, Nitride..)
液晶显示器(ITO, PR, Cell gap…..)
医学、生物薄膜或材料
印刷油墨，矿物学，颜料，碳粉
光学薄膜 TiO2, SiO2, Ta2O5…..
半导体化合物
功能薄膜在MEMS /微光机电系统 ?
非晶，纳米及结晶硅
太阳能光伏材料涂层

规格：
•波长范围：250至1700纳米
•光斑尺寸：500微米至5毫米
•样品尺寸：200x200mm
•基板：可测量达50毫米厚
•可测量厚度范围：2纳米至150微米
•测量时间：2毫秒zei低
•精度：优于0.5％
•重复性：“1 Ǻ

System Configuration:
• Model: SR500R
• Dual Detectors: CCD Array for UV-Vis and InGaAs Detector Array for Near-Infrared (NIR)
• Light Source: Combined Deuterium and Halogen
• Light Delivery: Fiber Optics
• Stage: Black Anodized Aluminum Alloy with Easy Adjustment for sample height, 200x200mm size
• Software: TFProbe 2.2
• Communication: USB
• Measurement Type: Film thickness, reflection spectrum, refractive index
• Computer needed: P3 above with minimum 50 MB space
• Power: 110– 240 VAC /50-60Hz, 1.5 A

•容易设置
•容易操作的软件与窗口
•先进的光学设计，zei佳的系统性能
•阵列探测器，以确保快速测量
•测量薄膜厚度和折射率,zei多可测5层
•以毫秒为单位收集反射光谱，传输和吸收光谱
•能够实时或在线测量薄膜的厚度或折射率
•系统配备了光学常数的综合数据库
•先进TFProbe软件允许用户对于每个薄膜分析,选择使用NK模式，或EMA模式。
•升级至中型（显微分光光度计）系统，开关磁阻电机定位系统，多通道系统，
•可以直接获得样品的图象或组织结构
•适用于许多不同类型的基板不同厚度,
•各种配件提供特殊配置，如如运行曲面曲线测量
•2维或3维的图像输出，友好的用户数据界面管理；

光谱反射薄膜测厚系统 型号：SR500信息由北京燕京电子有限公司为您提供，如您想了解更多关于光谱反射薄膜测厚系统 型号：SR500报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途