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碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。
功能
•处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上•背光查克的早期阶段的过程•朋友处理透明的晶片•eef——边缘控制能力•自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习•弓测量•预测收益率-晶圆缺陷位置精度< 2um
技术
•sts -表面形貌传感器•背光
产品
EagleT-AP
为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。
EagleT-i
设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个zui快的和zui精确的2 d检查工具在市场上。
咨询:182 6326 2536(微信同号)
CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用,CAMTEK
CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用信息由北京亚科晨旭科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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