高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。皮米样品台驱动JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野-从样品的整......
高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。皮米样品台驱动JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野-从样品的整......
大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Examinatio......
使用单颗粒分析技术测定大分子结构的完整解决方案冷冻电镜单颗粒分析技术(Single Particle Analysis,SPA)可测定蛋白、蛋白复合物和其他生物大分子近原子分辨率的三维结构。这一成功得益于玻璃化技术的应用,样品以很快的速度冷冻,与其生物特性相关的天然状态得以保存。SPA 彻底变革了整个结构生物学领域,使人们对许多生物学过程有了新的认识。SPA......
安捷伦气相色谱仪7890B可用于测定水样,适用于矿物油项目。并且参考多项行业标准ISO 9377。可应用于多个行业领域。 具备集成智能功能的 Agilent 7890B 气相色谱系统以安捷伦 40 多年的气相色谱经验为基础。7890B 气相色谱系统的先进功能可帮助用户在更短的时间内获得更多的分析结果,其高质量设计和可靠性可保证系统在未来数年内始终处于高性能......
点击查看下载透射电镜(原FEI) 赛默飞 其他资料相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供样品表面微观结构的详细(纳米级)信息,因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪(EDS)结合使用,将形貌特征和......
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本相关资料,进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会......
点击查看下载(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料,进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时,过高的成像电压带来的电子束会损伤样本,从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作,因而能最大限度减少样本干扰,同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......
点击查看下载7696AAgilent 样品制备平台自动进样器和进样口 Agilent 样品制备工作台相关资料,进一步了解产品。 Agilent 7696A 样品前处理工作台具有一致的精度,消除了与稀释、添加内标和衍生化等样品前处理常规步骤相关的误差。采用带称重站的工作台,能够称量精确质量的物质到气相色谱或液相色谱样品瓶中,满足了特定的 ASTM......
DENSsolutions 总部位于荷兰,专注于提供先进的原位电子显微镜( In-situ TEM)解决方案,致力于开发创新的实验平台和设备,使研究人员能够在电子显微镜下模拟多种实际工作条件,从而实时观察和分析材料的性质和行为。 DENSsolutions 系列产品在科学研究和工业领域具有广泛的应......