multimode8 原子力显微镜
超精密原子力显微镜Park NX20缺陷分析的最佳选择 作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20，这款全球最精密的大型样品原子力显微镜，凭借着出色的数据准确性，在半导体和超平样品行业中大受赞扬。 最强大全面的分析功能具备独一无二的功能，可快速帮助客户找......
Park NX-Wafer可自动进行缺陷检测的低噪声、高通量原子力轮廓仪Park NX-Wafer是唯一可进行自动缺陷检测的晶片制造原子力显微镜。可以扫描300mm的大晶片，在确保高度的准确性和高质量的前提下，可以提高实验室产率10倍。精确、高通量原子力轮廓分析可缺陷成像和分析的全自动原子力显微镜能偶扫描300mm大晶片提高缺陷检测效率至高达10倍低噪音原子......
Park XE15Park XE15包括许多独特的功能，使其需要用原子力显微镜处理大量不同种类样品的实验室和研究中心。其合理的价格和一系列强大的功能也使成为其性zei高的原子力显微镜之一。多功能型和强大，专为纳米研究和失效分析独特的多样品扫描减少了停机时间200mm X 200mm 的大样本尺寸提供了更多的可能性zei具包容性的扫描模式组合可以适应任何需要非......
ParkNX20 300mm用于失效分析，质量保障和质量控制的zei佳原子力显微镜Park NX20 300mm是业界一个大样品原子力显微镜，支持300mm X 300mm全程机动化。新升级的Park NX20系统专为失效分析和质量控制实验室设计，可有效地检测整个300mm晶圆，且无需任何繁琐的样品移位。经检验的原子力显微镜性能和单击原子力显微镜自动化取消了......
持续坚持纳米科技创新进步Park NX7实惠智能的Park NX7—— AFM 研究的理想首选Park NX7灵活智能的研究级AFM，实惠来袭！Park NX7 配有Park原子力显微镜的顶尖技术，其设计与新型显微镜一样彰显细节品质，可以有效助您取得精准的研究成果。现在价格实惠，是您预算合理下的理想首选。通过消除扫描器串扰进行准确的XY扫描- 独立......
Park NX 12多功能原子力显微镜平台，满足纳米级测量的需求电化学测试的绝佳平台多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用Park NX 12 平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜(EC-STM)......
Park NX-HDM 用于自动化缺陷检测和表面粗糙度测量的最具创新的原子力显微镜识别纳米级缺陷是工程师在处理媒介和平面基底工作时非常耗时的一项工作。Park NX-HDM原子力显微镜通过自动缺陷识别、扫描和分析将该过程加速一个数量级。Park NX-HDM直接与各类光学检测工具相连接，从而显著提高自动缺陷检测量。凭借业界最低的本底噪声和独特的Tr......
专为超大纳米平板扫描器测量而设计的自动化原子力显微镜系统随着对大型平板显示器原子力显微镜计量需求的增加，Park NX-TSH 通过利用探针扫描器和龙门式气浮台的结合，克服了针对大型和重型样品进行纳米计量的巨大挑战。Park NX-TSH能获得关于表面粗糙度，台阶高度，关键尺寸和侧壁信息的高分辨率图像和数据，从而为大型纳米级尺寸样品测量提供完美解决方案。Pa......
Park NX-Hybrid WLIAFM 和 WLI 技术集成系统用于 200mm至 300mm 晶圆的全自动工业化 AFM-WLI 系统是业内最快捷、最准确、最通用的半导体计量工具。Park NX-Hybrid WLI 是迄今为止首个内置白光干涉仪轮廓测量的 AFM 系统，可用于半导体元件的研发计量、过程控制和制造质量保证。Park NX-Hybrid ......
Park NX-Mask基于AFM的 EUV 掩膜修复及其他性能 Park NX-Mask是一款用于修复高端EUV掩膜的创新型机台。Park NX-Mask 采用最新的原子力显微镜技术，配有新一代的光罩修复系统，用于解决随着器件尺寸缩小和光掩膜复杂性增加带来的新式挑战。从自动缺陷检测到缺陷修复再到修复验证的一站式解决方案为您提供了前所未......