jem-2200fs
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
产品特点JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。 利用过滤器的功能，不仅可以进行样品中的元素分析，还能分析化学结合状态，从零损失像和能量过滤像中获得感兴趣的有用信息。镜筒内置式Omega过滤器镜筒内置式能量过滤器能获取高精度的能量过滤像及电子能量损失谱，优化设计的过滤器能提供无畸变的过滤像。控制系统电子......
产品规格物镜种类*1极高分辨率（UHR）型高分辨率（HR）型样品高倾斜（HT）型样品冷却（CR）型高衬度（HC）型分辨率 点分辨率晶格分辨率0.19 nm0.1 nm0.23 nm0.1 nm0.25 nm0.1 nm0.27 nm0.14 nm0.31 nm0.14 nm能量分辨率0.8 eV（零损失 FWHM）加速电压160 kV，200 kV*2电子枪......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便。与此同时还可以......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便。与此同时还可以......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光......
Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光斑或低亮度光斑都有着不俗的表现。 多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构......
多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构。 聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)树脂TEM图像利用“数码变焦”可以清晰观察片层结构。 胡萝卜叶TEM图像可识别叶绿体和线粒体的薄膜结构；此外，还可以观察膜结构细节。 &nb......