200kv/jem-2100
仪器简介：JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。 JEM-2100Plus搭载Windows操作界面,操作更简单。并与STEM, EDS, CCD和EELS实现了一体化控制。 JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进，非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件，可以轻松实现3D观察......
仪器简介：对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G220经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
IDES是时间分辨透射电子显微镜（TEM）领域的领导者和先驱，专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时间分辨功能，能够在非常快的时间尺度范围内进行新的应用和对样品进行动态研究。■ JEM-2100 时间分辨电子显微镜该设备是利用一个或多个激光器进行pump-探针实验而设计的用于研究样品中的......
仪器简介：JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。 JEM-2100Plus搭载Windows操作界面,操作更简单。并与STEM, EDS, CCD和EELS实现了一体化控制。 JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进，非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件，可以轻松实现3D观察......
技术参数：1.点分辨率：0.19nm 2.线分辨率：0.14nm 3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV 4.倾斜角：25 5.EDS:13主要特点：1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO 2.稳定的操作系统 3.zei小束斑尺寸：0.5nm 4.良好的扩展性JEM-2100Plus 透射电子显微镜JEM-2100Plus电子......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光......
Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光斑或低亮度光斑都有着不俗的表现。 多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构......
IDES是时间分辨透射电子显微镜（TEM）领域的领导者和先驱，专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时间分辨功能，能够在非常快的时间尺度范围内进行新的应用和对样品进行动态研究。■ JEM-2100 时间分辨电子显微镜该设备是利用一个或多个激光器进行pump-探针实验而设计的用于研究样品中的......