仪器简介: JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 JEM-2100Fzei新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰,可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率(58 fps/全像素模式)设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰,在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构。 聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)树脂TEM图像利用“数码变焦”可以清晰观察片层结构。 胡萝卜叶TEM图像可识别叶绿体和线粒体的薄膜结构;此外,还可以观察膜结构细节。 &nb......
产品规格加速电压≤ 200kV有效像素数量1900万像素(5688 *3336)传感器感光尺寸36.4mm x 21.35mm像素尺寸6.4um x 6.4um帧速58fps全像素模式记录模式图像,视频图像格式大尺寸5688*3366,中等尺寸2880*1680,小尺寸1248*1200文件格式TIFF、BMP、JPG快门类型全局快门安装位置底部安装(观察室......
Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰,在晶格分辨率下同样表现优异。 Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子,如准晶体的特征。此外,高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度,对高亮度直射光......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰,可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率(58 fps/全像素模式)设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰,在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子,如准晶体的特征。此外,高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度,对高亮度直射光斑或低亮度光斑都有着不俗的表现。 多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构......
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制......