2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大......
2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为:......
外观设计精炼精炼的外型,全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大......
JEM-F200自动进样透射电镜透射电镜操作难点1,插拔样品杆;2,电镜操作JEM-F200自动插拔样品杆JEM-F200图像操作界面[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]STEMx 20,000 ~ x 200,000,000TEMx 20......
[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]STEMx 20,000 ~ x 200,000,000TEMx 200 ~ x 1,500,000[电子源]电子源热场或冷场加速电压*2800, 200 kV[稳定度]加速电压≦5 x 10-7/min......
JEM-F200 场发射透射电子显微镜以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。外观设计精炼精炼的外型,全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在......
2021年1月22日,日本电子株式会社(JEOL)全球同步发布300KV冷冻电镜的升级版JEM-3300,主要特点如下:1)更稳定的冷场发射电子枪2)全自动欧米伽能量过滤器3)最高加速电压300kV4) 自动进样装置5)自动单颗粒数据采集软件6)JEOL成熟的相位版技术7)高效全自动操作软件JADAS8)科勒照明光路等产品特点:高效、易于操作且随......
点击查看下载日本电子透射电镜JEM-ARM200F NEOARM 样本相关资料,进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者,近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好,稳定性强且智能化程度高,操作得心应手,是材料表征和分析的绝佳选择。 技术参数: 1.分辨率:STEM图像分辨: 0.071 nm &nbs......