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日本电子株式会社(JEOL)
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | JEM-F200 |
| 品牌： | 日本电子 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 1669 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 仪器种类 | 场发射 | 价格范围 | 800万-900万 |
| 分辨率 | 0.19nm | 加速电压 | 200 , 80 kV |
| 电子枪 | 热场或冷场 | 放大倍数 | 150万倍 |
| 样品台 | 皮米样品台 | 样品移动范围 | 1mm |
| 最小束斑尺寸 | 0.136nm | 成像透镜系统 | 四级聚光镜 |
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以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
外观设计精炼
精炼的外型，全新的视觉感受。
为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。
四级聚光镜系统
现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。
高端扫描系统
JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。
皮米样品台驱动
JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。
SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置）
插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。
改进的冷场发射电子枪
JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。
双能谱（SDD）
JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）。 凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小。
环保节能
JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。
| [分辨率] | |
| STEM | 0.16 nm (200 kV) |
| TEM (晶格, 点) | 0.19 nm (200 kV) |
| 0.10 nm (晶格, 200 kV) | |
| [放大倍率] | |
| STEM | x 20,000 ～ x 200,000,000 |
| TEM | x 200 ～ x 1,500,000 |
| [电子源] | |
| 电子源 | 热场或冷场 |
| 加速电压*2 | 800, 200 kV |
| [稳定度] | |
| 加速电压 | ≦5 x 10-7/min |
| 物镜电流 | ≦5 x 10-7/min |
| [样品系统] | |
| 样品台 (测角仪) | 全对中样品台 |
| 样品尺寸 | 3 mmφ |
| 最大倾斜角 | ±90度 |
| 行程范围 (mm) | X, Y: ±1 Z:±0.2 |
| [选配] *4 | |
*1 : 如有特殊要求请另行咨询。
*2 : 其它加速电压, 请另行咨询。
*3 : 该角度高度依赖于样品架的物理尺寸. 请另行咨询。
*4 : 如有特殊要求请另行咨询
日本电子JEM-F200自动进样透射电镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于日本电子JEM-F200自动进样透射电镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
